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第12届电介质材料性能及其应用国际会议在西安交大举行

发布时间:2019-05-02 20:11 来源:未知 编辑:admin

  5月20-23日,第12届电介质材料性能及其应用国际会议(IEEE 12th International Conference on Properties and Application of Dielectric materials, ICPADM 2018)在西安举行。来自中国、美国、日本、韩国、英国、澳大利亚、加拿大等20个国家的近300名专家学者汇聚一堂,交流前沿学术成果,共同探讨本领域发展前景。西安交通大学电气学院常务副院长李盛涛教授担任大会主席。ICPADM国际顾问委员会主席Harry Orton、中国工程院院士雷清泉、西安交通大学副校长荣命哲出席会议并致辞。

  电介质材料性能及其应用国际会议设立了“纪念刘子玉讲座”,以纪念为创建该会议作出杰出贡献的西安交通大学刘子玉教授。第12届“纪念刘子玉讲座”邀请了日本东京城市大学Y.Tanaka教授介绍了PEA方法在电介质空间电荷特性研究中的新进展。与会学者围绕纳米电介质、空间电荷、局部放电、电导与击穿、老化与寿命评估等主题开展热烈讨论与交流。

  会议期间,电介质老化、高端电力电缆和纳米电介质三个主题研讨会分别召开。三个主题紧密契合行业发展前沿,为与会者提供了良好的交流平台。

  本次大会由IEEE DEIS主办,西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室承办。该会议由西安交通大学电气绝缘专业发起,每三年举办一次。首届电介质材料性能及其应用国际会议在西安交通大学举行,刘子玉教授担任主席。

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